Сканерлеуші электронды микроскопиядағы (СЭМ) топырақ бөлшектеріне зарядтың әсері

Аңдатпа

Сканерлеуші электронды микроскоп (СЭМ), материалдардың сипаттамаларын
анықтауға арналған құрал, борпылдақ материалдардың беті мен жер асты қабаттары, құрамы мен
ақаулары туралы ақпарат алуға мүмкіндік береді. Мақаланың мақсаты-сканерлеуші электронды
микроскопия (СЭМ) кезінде зарядтауға топырақ бөлшектерінің параметрлерінің әсерін түсіну.
СЭМ суреттері коллювиалды топырақ бөлшектерінде бөлшектердің мөлшерін (A=2-1 мм, B=0,6-
0,425 мм, C=0,3-0,212 мм және D= <0,075 мм) және өткізгіш жабындардың санын (жабынсыз, бір және
қос) өзгерту арқылы алынды. Мақалада топырақ бөлшектерінің барлық түрлеріне қолданылатын
СЭМ әдісімен кескіндерді алу үшін топырақ бөлшектерін дайындау әдісі ұсынылған. Зерттеу
көрсеткендей, 212 мкм - ден асатын топырақ бөлшектері зарядтау әсерін болдырмау үшін қос
өткізгіш жабынды, ал 75 мкм-ден аз бір жабынды қажет етеді. Кескіннің айқындылығы 212 мкм ден
асатын топырақ бөлшектері үшін күмәнді Қос өткізгіш жабындарды қолданғаннан кейін 10000 есе
және одан жоғары үлкейту кезінде.