Влияние заряда на частицы почвы при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ)

Аннотация

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), инструмент для определения
характеристик материалов, позволяет получить информацию о поверхности и подповерхностных
слоях, составе и дефектах сыпучих материалов. Цель статьи - понять влияние параметров частиц
грунта на зарядку при сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). СЭМ-изображения были
получены на частицах коллювиального грунта путем варьирования размера частиц (A=2-1 мм,
B=0,6-0,425 мм, C=0,3-0,212 мм и D= <0,075 мм) и количества проводящих покрытий (без покрытия,
одинарное и двойное). В статье предлагается способ подготовки частиц почвы для получения
изображений методом СЭМ, который применим для всех типов частиц почвы. Исследование
показало, что частицы грунта размером более 212 мкм требуют двойного токопроводящего
покрытия, а менее 75 мкм - одинарного покрытия, чтобы избежать эффекта зарядки. Резкость
изображения сомнительна для частиц грунта размером более 212 мкм при увеличении в 10000 раз
и выше после нанесения двойных проводящих покрытий.